888腾博会EMC专家组整改案例
一．芯片级EMC案例展示：
1.一种多开态MOS辅助触发SCR的高压ESD保护方案
2.芯片传压电路中的漏电抑制与静电防护技术
二．消费电子类
1.问题描述：接触10KV，静电打USB ID，导致屏不亮问题
失效原因：静电从USB id串位1K电阻，二次放电致旁边0R电阻，0R电阻为屏供电IC使能串位，导致屏供电IC损坏
优化方案：
方案一：USB ID增加TVS；
方案二：将0R电阻挪开，远离1K电阻
2.问题描述：产品上市后，存在死机问题
失效原因：天线信号耦合至T卡信号线，CPU内部T卡信号线与CPU复位走线重叠，导致死机
改善方案，降低射频发射功率，同步优化芯片内部走线
3.问题描述：某手持设备，空气12KV导致sim卡单体损坏
失效原因：静电从sim卡槽缝隙进去卡托压料孔，存在二次放电，导致sim卡单体损坏
优化方案：金属中框往外延伸，超过压料孔
三．大型电源类，新能源电池类；
四．车标电子设备；
五．电力行业；
六．军工航空航天产品
七．大型医疗电器；
EMC正向设计和整改，888腾博会有字典式积累，有系统性的EMC诊断分析工具和方法，善于解决各类疑难杂症。
